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mux-d型式的扫描寄存器单元的基本门级电路图

边界扫描是一种被广泛使用的测试技术,它要求在输入或输出引脚和内部内核逻辑之间配置边界扫描单元。边界扫描测试技术能够高效地测试内核逻辑和互连。图4给出了传统带移位和更新节点的标准边界扫描单元(BSC)。Mode_1使单元处于测试模式。在扫描操作中数据通过移位寄存器(Shift-DR状态)进行移位 。通过扫描输入端口(TDI)被扫描进边界扫描单元的测试模式在Update-DR状态(UpdateDR信号)下得到并行使用。连接于内部逻辑和输出引 脚之间的边界扫描单元可以并行捕获电路响应,并通过扫描输出端口(TD
 
边界扫描是一种被广泛使用的测试技术,它要求在输入或输出引脚和内部内核逻辑之间配置边界扫描单元。边界扫描测试技术能够高效地测试内核逻辑和互连。图4给出了传统带移位和更新节点的标准边界扫描单元(BSC)。Mode_1使单元处于测试模式。在扫描操作中数据通过移位寄存器(Shift-DR状态)进行移位 。通过扫描输入端口(TDI)被扫描进边界扫描单元的测试模式在Update-DR状态(UpdateDR信号)下得到并行使用。连接于内部逻辑和输出引 脚之间的边界扫描单元可以并行捕获电路响应,并通过扫描输出端口(TD | 宽417x229高 | 显示比例:100% | 查看原图 | 图片来源:e.pinnace.cn
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