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可对具有jtag口芯片的硬件电路进行

TCK——测试时钟输入; TDI——测试数据输入,数据通过TDI输入JTAG口; TDO——测试数据输出,数据通过TDO从JTAG口输出; TMS——测试模式选择,TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。 可选引脚TRST——测试复位,输入引脚,低电平有效。 含有JTAG口的芯片种类较多,如CPU、DSP、CPLD等。 JTAG内部有一个状态机,称为TAP控制器。TAP控制器的状
 
TCK——测试时钟输入; TDI——测试数据输入,数据通过TDI输入JTAG口; TDO——测试数据输出,数据通过TDO从JTAG口输出; TMS——测试模式选择,TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。 可选引脚TRST——测试复位,输入引脚,低电平有效。 含有JTAG口的芯片种类较多,如CPU、DSP、CPLD等。 JTAG内部有一个状态机,称为TAP控制器。TAP控制器的状 | 宽640x416高 | 显示比例:100% | 查看原图 | 图片来源:www.hzlitai.com.cn
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